X射線熒光光譜儀的軟硬件技術分析說明
發布日期：2022-01-10 信息來源：公司新聞 瀏覽次數：402
X射線熒光光譜儀主要由激發源和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線，來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。
X射線熒光光譜儀的軟件技術：
分析元素：Na~U之間元素。
短分析時間：60秒。
配置RoHS檢測分析模型，無鹵分析模型。
軟件界面簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作。
可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。
軟件擁有數據一鍵備份，一鍵還原功能，保護用戶數據安全。
根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試度。
配備開放式分析模型功能，客戶建立自己的工作模型。
硬件技術：
超短光路設計：提高無鹵檢測分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長儀器使用壽命。
模塊化準直器，根據分析元素，配備不同材質準直器，從而降低準直器對分析元素的影響，提高元素分辨率。
e空氣動力學設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；靜音設計。
電路系統符合EMC、FCC測試標準。
快拆卸樣品臺，換薄膜更方便。
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