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                天瑞XRF光譜儀的檢測原理和光學系統是怎樣的
              1. 發布日期:2022-05-07     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:178
                •    天瑞XRF光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

                   
                    天瑞XRF光譜儀的光學系統:
                    主光路部分包括:標準進口光柵;穩定可靠的焦距羅蘭圓出縫架。折反式前光路設計,使光路結構更加緊湊;方便可拆卸的光窗及入射狹縫設計,使維護清潔更加簡單,出射狹縫采用德國高精度加工中心整體加工,包括所有可能用到的120個分析通道精確定位,可以滿足各種基本元素分析;這種設計方法,為以后增加通道帶來方便。
                   
                    鋁合金整體光學室與特制中央空調式加熱恒溫設計,確保了光學室系統的長期穩定性。
                   
                    氬氣流沖洗確保系統潔凈,減少定期檢修次數,根據應用不同,光學室可以用真空及非真空狀態。
                   
                    天瑞XRF光譜儀是X射線光管發出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內層電子被激發,當外層電子躍遷時產生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。
                   
                    X射線是一種波長較短的電磁輻射,X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。

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